ASML High-NA EUV邁入量產 5200B可用率拚年底達90%

記者許若茵/台北報導

高數值孔徑極紫外光微影(High-NA EUV)正從技術開發逐步走向量產。ASML高數值孔徑極紫外光微影設備產品管理資深副總裁Greet Storms表示,目前High-NA EUV系統全球累計已曝光超過135萬片晶圓,相關設備已開始進入量產應用,其中EXE:5200B更已完成完整規格認證,並以每小時135片晶圓的生產力運作。

ASML高數值孔徑極紫外光微影設備產品管理資深副總裁Greet Storms表示,目前High-NA EUV系統全球累計已曝光超過135萬片晶圓,相關設備已開始進入量產應用。(圖/記者許若茵攝)
ASML高數值孔徑極紫外光微影設備產品管理資深副總裁Greet Storms表示,目前High-NA EUV系統全球累計已曝光超過135萬片晶圓,相關設備已開始進入量產應用。(圖/記者許若茵攝)

Storms表示,兩年前她首次談到High-NA時,ASML才剛導入第一套系統,如今High-NA系統已在全球超過4家客戶、10套設備的裝機基礎上運作,另有3套系統正在運送或安裝中。目前累計曝光量已突破135萬片,其中約30%晶圓是由EXE:5200B曝光,而5200B正是ASML針對高量產製造所開發的系統。

Storms強調,設備性能達標只是進入高量產的其中一步,設備可用率同樣關鍵。她表示,若設備只能連續運轉幾個小時,仍無法支援高量產製造。

5200B今年1月的設備可用率約70%,目前已提升至84%,ASML目標在今年底達到90%。接下來將持續降低排程停機時間及極長時間的設備停機,期望年底建立客戶進入量產所需的穩定可用率。

對於High-NA接下來如何進一步導入產業,Storms表示,ASML與客戶討論後,預期將經歷三個階段。

第一階段是利用High-NA協助分擔目前EUV產能需求,並從部分製程層開始導入量產,同時讓產業逐步累積使用High-NA進行量產的經驗。

第二階段則是將High-NA應用在專門為High-NA設計的製程層,透過從多重圖案化(multi-patterning)轉向單次曝光流程,進一步帶來製程簡化,並改善成本、缺陷率、良率及cycle time。

第三階段則是進一步探索High-NA能帶來的完整效益,包括利用High-NA直接形成特定二維(2D)結構,進而改善元件性能,為產業創造更多價值。

Storms表示,在記憶體領域,ASML認為High-NA可以支援多個節點的2D scaling roadmap,目前已開始探索1c節點的量產應用,1D節點則正在完成製程認證,後續還會延伸至其他節點;更後面的節點則仍處於研究與可行性階段,仍需要與合作夥伴持續推進光阻、光罩等技術。

邏輯方面,她表示,ASML認為1奈米節點將是High-NA首次進入量產的節點,初期會使用在有限的製程層,並可能從較小型產品開始。這類產品尺寸小於half field,因此可以在不需要stitching、也不必改變邏輯裝置架構的情況下使用High-NA。

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再往後,ASML預期在0.7奈米節點擴大High-NA應用,並導入金屬氧化物光阻(MOR)及stitching等技術;至0.5奈米節點,則仍在探索包括更大型光罩等可能方向。

除了製程性能,產業也關注High-NA設備是否能維持足夠的經濟效益。Storms表示,從目前的EXE:5200B到預計在本十年末推出的EXE:5400E,ASML已建立High-NA生產力提升路線。

其中一項方向是提高EUV光源功率,從目前約600W進一步提升至1000W;同時加快晶圓與光罩處理速度,導入新的wafer handler,並縮短reticle exchange及wafer exchange等流程的overhead時間。

ASML也會降低設備在多產品、多光罩等使用情境下的額外overhead,希望到本十年末進一步消除這些因素對生產力的影響。

Storms表示,若按照目前規劃推進,AB productivity使用情境到本十年末可達每天超過300片晶圓,較目前提升約30%。在5200B之後,ASML將透過5200C、5200D持續改善晶圓及光罩處理能力,到了5400E則進一步導入1000W光源。

Storms最後總結,High-NA目前已累計曝光超過135萬片晶圓,5200B也已完成包含135 wafers per hour生產力在內的完整規格認證,並促成首批邏輯裝置進入量產。未來ASML將透過三階段逐步釋放High-NA的製程與元件性能潛力,同時持續與產業、晶圓代工廠、設計人員及合作夥伴合作,推進focus、stitching及生產力等技術。

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